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Hitachi High-Tech erweitert Ausstattung für Schichtdickenmessgerät

Mit einem neuen hochauflösenden Detektor und einer neuen Konfiguration für den Probentisch erweitert Hitachi High-Tech das Leistungsspektrum des RFA-Schichtdickenmessgeräts X-Strata920.

RFA-Schichtdickenmessgerät X-Strata920 von Hitachi High-Tech (Bild: Hitachi-High-Tech)

RFA-Schichtdickenmessgerät X-Strata920 von Hitachi High-Tech

Die Hitachi High-Tech Analytical Science Corporation, Tochter der Hitachi High-Technologies Corporation (TSE: 8036) und Aussteller auf der Industrieausstellung der ZVO-Oberflächentage 2018 in Leipzig, erweitert das Leistungsspektrum des RFA-Schichtdickenmessgeräts X-Strata920 um einen neuen hochauflösenden Detektor und einen neuen Konfiguration für den Probentisch.

Die RFA Schichtdickenmessgeräte von Hitachi High-Tech werden seit mehr als 40 Jahren erfolgreich in der Elektronik- und Metallveredelung eingesetzt. Das X-Strata920 stellt sicher, dass Beschichtungen den vorgeschriebenen Spezifikationen entsprechen und minimiert den Ausschuss von Über- oder zu dünnen Beschichtungen. Das erweiterte Leistungsspektrum des X-Strata eröffnet zahlreiche neue Möglichkeiten.

So kann das neue X-Strata für optimale Leistungsfähigkeit benutzerspezifisch angepasst werden – wahlweise mit einem hochauflösenden Silizium-Drift-Detektor (SDD) oder einem Proportional-Zählrohr. Darüber hinaus verfügt das Gerät nun über vier Konfigurationen der Messkammer und Probentische, für eine Vielzahl unterschiedlicher Probenformen und -größen, wie Proben mit komplexen Geometrien in der Automobilindustrie.

Im Vergleich zu einem Proportional-Zählrohr kann ein SSD-Detektor bei komplexen Beschichtungsstrukturen Vorteile bieten, da er bei Elementen mit ähnlichen RFA-Eigenschaften, wie bei Nickel und Kupfer, eine einfachere Analyse erlaubt. Damit erweitert sich die Palette analysierbarer Elemente auch um Phosphor, entscheidend für eine Analyse der Schichtdicke im stromlosen Vernickelungsprozess, und sorgt für eine genauere Messung dünnerer Beschichtungen wie Gold im Nanometerbereich von IPC-4552A.

Matt Kreiner, Hitachi Product Business Development Manager: „Das X-Strata920, wie auch andere RFA-Geräte von Hitachi High-Tech, sind bekannt für ihre Zukunftsfähigkeit, Zuverlässigkeit und Benutzerfreundlichkeit. Die Ergänzung mit einem SDD-Detektor und die Option eines größeren Probentisches ermöglicht unseren Kunden umfangreichere Analysen und eine höhere Flexibilität bei der Messung komplexer Beschichtungen ganz unterschiedlicher Teile. Die höchst intuitive SmartLink Software haben wir beibehalten. Ungeachtet seiner Erfahrung kann somit jeder Benutzer die Bedienung des Geräts rasch erlernen und genaue zuverlässige Ergebnisse erzielen. Unsere Produkte, darunter das moderne Mikrofokus-Analysegerät FT150, RFA-Handgeräte und CMI-Messgeräte, bieten eine schnelle und auch portable Beschichtungsanalyse. Seit mehr als 40 Jahren genießen unsere Produkte das Vertrauen der Branche. Wir freuen uns sehr, diese Erweiterung anbieten zu können.“

Hitachi-High-Tech ist Aussteller der Industrieausstellung im Rahmen der ZVO-Oberflächentage 2018 in Leipzig (Stand Nr. 27).

Diese Meldung ist eine Unternehmenspresseinformation. Der Zentralverband Oberflächentechnik e.V. ist nicht verantwortlich für Inhalt und Aussagen dieser Meldung und übernimmt für deren Richtigkeit keine Gewähr. Sollten Sie zu dieser Unternehmenspresseinformation Nachfragen haben, richten Sie diese bitte direkt an das publizierende Unternehmen.