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Neues aus der Normung

Die Norm DIN 50989-2:2021 ist erschienen. Außerdem wurde der Normentwurf DIN 50989-2:2021 zur Kommentierung vorgelegt.

Die DIN 50989-2:2021 „Ellipsometrie – Teil 2: Modell Volumenmaterial; Text Deutsch und Englisch“ ist erschienen. Diese Norm legt das Verfahren das Verfahren zur Bestimmung der optischen bzw. dielektrischen Konstanten mittels ellipsometrischer Messungen und deren Auswertung auf Basis des Modells Volumenmaterial fest. Damit ist der zweite Teil des Normenpakets DIN 50989 „Ellipsometrie“, erschienen. Er kann bei der Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin, www.beuth.de bezogen werden. Weitere Teile des Normenpakets werden derzeit erarbeitet.

DIN 50989-2:2021 „Metallische Überzüge – Messung der Schichtdicke – Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop“ fertiggestellt

Folgender Normentwurf wurde fertiggestellt und der Öffentlichkeit zur Prüfung und Stellungnahme vorgelegt: DIN 50989-2:2021 „Metallische Überzüge – Messung der Schichtdicke – Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop“.
Dieses Dokument legt ein zerstörendes Verfahren zur Messung der örtlichen Schichtdicke metallischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden.

Gegenüber der Ausgabe 1995-01 wurden umfangreiche Änderungen vorgenommen. Neben der redaktionellen Überarbeitung wurden beispielsweise zwei weitere Kalibrierverfahren hinzugefügt, technisch veraltete Inhalte gestrichen und Anhänge überarbeitet und ergänzt. Die Eingabefrist für den Normentwurf endet am 5. Mai 2021. Der Entwurf ist kostenfrei über das DIN-Norm-Entwurfs-Portal einzusehen und zu kommentieren.